優(yōu)尼康科技為光刻膠工藝提供專業(yè)測量設(shè)備與應(yīng)用方案，包括膜厚儀（測量厚度與均勻性）、橢偏儀、3D輪廓儀（分析關(guān)鍵尺寸與形貌）、臺(tái)階儀等。解決半導(dǎo)體、顯示面板等領(lǐng)域的光刻膠研發(fā)與質(zhì)控難題，提升產(chǎn)品良率。
優(yōu)尼康科技為晶圓級(jí)封裝提供專業(yè)測量設(shè)備與解決方案，包括膜厚儀（監(jiān)控RDL/介質(zhì)層厚度）、輪廓儀（測量TSV/凸點(diǎn)3D形貌）、臺(tái)階儀及納米壓痕儀（評(píng)估材料力學(xué)性能），助力提升先進(jìn)封裝良率與可靠性。
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