- 返回 |
- 網(wǎng)站首頁
- / 新聞資訊
- / 公司動態(tài)
- / N1館1667|優(yōu)尼康邀您參加SEMICON CHINA,現(xiàn)場抽愛馬仕神秘禮盒!

SEMICON China 2026將于3月25日至27日在上海新國際博覽中心盛大召開。覆蓋設(shè)備、材料、設(shè)計、制造、封裝測試、軟件和服務(wù)等微電子、集成電路產(chǎn)業(yè)鏈各環(huán)節(jié),致力于推動研發(fā)創(chuàng)新,促進(jìn)產(chǎn)業(yè)持續(xù)發(fā)展。
優(yōu)尼康展臺N1館1667 邀您觀展,這一次我們把實驗室搬到現(xiàn)場,您可以近距離接觸高精度檢測設(shè)備:KLA Filmetrics 光學(xué)膜厚儀、KLA 光學(xué)輪廓儀、探針式輪廓儀、橢偏儀、臺階儀等。如果您有以上設(shè)備的使用或者測樣需求,歡迎蒞臨優(yōu)尼康展臺現(xiàn)場進(jìn)行了解與測樣。
掃描下方左側(cè)二維碼預(yù)約現(xiàn)場測樣,展臺準(zhǔn)備了豐富的禮品,抽取愛馬仕神秘禮盒、網(wǎng)紅盲盒等,更多活動盡在優(yōu)尼康展臺N1館1667,歡迎各位來現(xiàn)場交流!

掃碼預(yù)約測樣
資深技術(shù)現(xiàn)場1V1溝通

掃碼登記
獲取SEMICON入場券
精密薄膜測量專家
優(yōu)尼康科技有限公司 | 翌穎科技(上海)有限公司

“
展會時間:
2026年3月25日 - 27日
“
展會地點:
上海·新國際博覽中心
“
展位布局:
優(yōu)尼康展臺 N1館 1667號
觀眾邀請函



現(xiàn)場超多驚喜禮品!

愛馬仕神秘禮盒、網(wǎng)紅盲盒、獨角獸鑰匙扣等超多驚喜!我們現(xiàn)場見!

![]() | ||
Filmetrics F20 單點便攜式膜厚儀 | ||
無論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過率,F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果?;谀衬K化設(shè)計的特點,F(xiàn)20適用于各種應(yīng)用。 | ||
相關(guān)應(yīng)用:光刻膠、工藝薄膜、介電材料、硬涂層、Parylene、抗反射層、醫(yī)療設(shè)備、OLED、玻璃厚度、ITO與其他TCO。 |

![]() Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀 | ||
F40的光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù),通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析,幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。 | ||
相關(guān)應(yīng)用:半導(dǎo)體制造(光刻膠、氧化物/氮化物/SOI、半導(dǎo)體膜層);生物醫(yī)學(xué)元件(聚合物、聚對二甲苯);MEMS微機(jī)電系統(tǒng)(光刻膠、硅膜);LCD液晶顯示器(盒厚、聚酰亞胺、ITO導(dǎo)電透明膜)。 |

![]() Filmetrics F50 自動Mapping膜厚儀 | ||
F50可以非常簡單地獲得最大直徑450毫米的樣品薄膜厚度分布圖。采用r-θ 極坐標(biāo)移動平臺,可以快速定位所需的測試點并且實時獲得測試厚度,大約每秒測試兩點。 | ||
相關(guān)應(yīng)用:半導(dǎo)體制造(光刻膠、氧化物/氮化物/SOI、晶圓背面研磨);LCD 液晶顯示器(聚酰亞胺、ITO 透明導(dǎo)電膜);光學(xué)鍍膜(硬涂層、抗反射層);MEMS 微機(jī)電系統(tǒng)(光刻膠、硅系膜層)。 |

![]() Filmetrics F54-XY-200自動光學(xué)膜厚測量儀 | ||
F54-XY-200膜厚儀可以測量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量,達(dá)到每秒兩點。。 | ||
相關(guān)應(yīng)用:半導(dǎo)體膜層(光刻膠、介電層、砷化鎵、微機(jī)電系統(tǒng));顯示技術(shù)(OLED、ITO和TCOs、空氣盒厚、PVD和CVD);消費電子(防水涂層、射頻識別、太陽能電池、鋁制外殼陽極膜);派瑞林(電子產(chǎn)品、電路板、磁性材料、醫(yī)學(xué)器械、硅橡膠)。 |

![]() FS-RT300 多波長橢偏儀 | ||
Film Sense FS-RT300 多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動式部件橢偏探測器,可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現(xiàn)可靠地薄膜測量。 | ||
相關(guān)應(yīng)用:二氧化硅和氮化物,高介電和低介電材料,非晶和多晶材料,硅薄膜,光刻膠。高和低指數(shù)薄膜,如 SiO2, TiO2, Ta2O5, MgF2。TCO(如 ITO),非晶硅薄膜,有機(jī)薄膜(OLED 技術(shù))等。 |

![]() | ||
Profilm3D 白光干涉輪廓儀 | ||
Profilm3D 使用最先進(jìn)的垂直干涉掃描 (WLI) 與高精度的相位干涉 (PSI) 技術(shù)。以強(qiáng)大的性價比實現(xiàn)次納米級的表面形貌研究。 | ||
相關(guān)應(yīng)用:粗糙度測量;三維形貌表征;臺階高度測量 |

![]() | ||
KLA P-7 探針式臺階儀 | ||
KLA P-7 探針式臺階儀是KLA公司的探針式臺階儀系統(tǒng)。可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測量,其掃描可達(dá)150mm而無需圖像拼接。 | ||
相關(guān)應(yīng)用:薄膜/厚膜臺階、柔性薄膜、光阻/光刻膠臺階、蝕刻深度量測、表面曲率和輪廓分析、3D輪廓成像; |

![]() | ||
KLA R50 四探針電阻率測量儀 | ||
R50系列電阻測試儀,提供接觸式四點探針(4PP)與非接觸式電渦流(EC)兩種測量方案,測量范圍跨越10個數(shù)量級,精度高達(dá)±0.2%。專為半導(dǎo)體制造、柔性電子產(chǎn)品、太陽能電池等行業(yè)的導(dǎo)電薄膜電阻與厚度測量而優(yōu)化,確保卓越的測量重復(fù)性和準(zhǔn)確性。 | ||
相關(guān)應(yīng)用:半導(dǎo)體、太陽能、平板和VR顯示、化合物半導(dǎo)體、先進(jìn)封裝、導(dǎo)電材料、穿戴設(shè)備、印刷電路; |

![]() | ||
MINI450F 主動式減震臺 | ||
mini 桌上型主動式隔振臺全新設(shè)計,易使用,優(yōu)秀的隔振性能。 | ||
相關(guān)應(yīng)用:SPM,AFM,臺階儀,光學(xué)輪廓儀,激光干涉儀,桌面型SEM,激光共聚焦顯微鏡,表面粗糙度儀,小型硬度計,電子天平,硬盤制造裝置,微操作機(jī)器人,等精密裝置。 |