誠(chéng)邀您參加慕尼黑上海光博會(huì)

2024-03-14 10:40:12 admin

慕尼黑上海光博會(huì)將在2024年3月20-22日登陸上海新國(guó)際博覽中心，優(yōu)尼康將攜帶多臺(tái)機(jī)型參展。我們的展位號(hào)為：W4168。期待您的光臨。

展會(huì)時(shí)間：

2024年3月20日 - 3月22日

展會(huì)地點(diǎn)：

上海新國(guó)際博覽中心

展位：W4.4168

官方報(bào)名入口點(diǎn)擊進(jìn)入

參展設(shè)備

F20 膜厚測(cè)量?jī)x


F40 膜厚測(cè)量?jī)x 不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過(guò)率，F(xiàn)ilmetrics 膜厚儀都能滿足您的需求。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過(guò)USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果。
相關(guān)應(yīng)用：半導(dǎo)體制造（光刻膠、氧化物/氮化物/SOI、晶圓背面研磨）；LCD 液晶顯示器（聚酰亞胺、ITO 透明導(dǎo)電膜）；光學(xué)鍍膜（硬涂層、抗反射層）；MEMS 微機(jī)電系統(tǒng)（光刻膠、硅系膜層）。


Profilm3D 白光干涉光學(xué)輪廓儀
Profilm3D 使用垂直干涉掃描 (WLI) 與高精度的相位干涉 (PSI) 技術(shù)。以強(qiáng)大的性價(jià)比實(shí)現(xiàn)次納米級(jí)的表面形貌研究。
相關(guān)應(yīng)用：粗糙度測(cè)量;三維形貌表征;臺(tái)階高度測(cè)量