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    第四代半導體會議圓滿落幕
    
						
    
							2025-05-19 10:49:34
                              							 admin
                                                              							
    								
    								    							
                            						
    
					
    
					
    
						
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    第四代半導體技術研討會于5月16日在杭州寶盛水博園大酒店圓滿結束。此次會議聚焦氧化鎵、金剛石、氮化鋁三大核心材料展開廣泛地交流與探討，共同推動第四代半導體材料和相關器件的技術突破和產(chǎn)業(yè)化進程。
    優(yōu)尼康攜Filmetrics F20光學膜厚測量儀、FS-RT300 多波長橢偏儀前來參展，現(xiàn)場觀展氛圍火熱，有不少了解膜厚儀與橢偏儀的客戶前來主動交流探討薄膜測量。

    展會現(xiàn)場
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