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    Filmetrics F20 單點便攜式膜厚儀

    Filmetrics F20膜厚儀是一款兼具優(yōu)異性價比與出色便攜性的單點測量設備,廣泛應用于半導體、材料研發(fā)及質量控制領域。其操作簡便、測量快速,為各類薄膜厚度檢測需求提供了經(jīng)濟可靠的解決方案。

    • 產(chǎn)品名稱 單點光學膜厚儀
    • 品牌 Filmetrics
    • 產(chǎn)品型號 F20
    • 產(chǎn)地 美國


    Filmetrics F20 單點便攜式膜厚儀



    F20儀器圖片


    Filmetrics F20 單點便攜式膜厚儀產(chǎn)品介紹:

    無論您是想要知道薄膜厚度、光學常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過率,Filmetrics F20 單點便攜式膜厚儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結果?;谀K化設計的特點,Filmetrics F20 單點便攜式膜厚儀適用于各種應用。



    Filmetrics F20 單點便攜式膜厚儀產(chǎn)品特點:

    • 非接觸測量:避免損傷薄膜,適用于脆弱或敏感材料;

    • 高精度與寬量程垂直分辨率達納米級,可測厚度范圍從1nm3mm

    • 多場景適用性:基本上光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。

    • 測量速度快:配置完成后,數(shù)秒內(nèi)即可完成測量。



    Filmetrics F20 單點便攜式膜厚儀測量原理:

    當入射光穿透不同物質的界面時將會有部分的光被反射,由于光的波動性導致從多個界面的反射光彼此干涉,從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率,可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度(越多的震蕩代表越大的厚度),同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

    膜厚儀測量原理示意圖



    Filmetrics F20 單點便攜式膜厚儀膜層范例:

    • 薄膜特性:厚度、反射率、透射率、光學常數(shù)、均勻性、刻蝕量等

    • 薄膜種類:透明及半透明薄膜,常見如氧化物、聚合物甚至空氣

    • 薄膜狀態(tài):固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)薄膜都可以測量

    • 薄膜結構:單層膜、多層膜;平面、曲面



    Filmetrics F20 單點便攜式膜厚儀常見工業(yè)應用:

    半導體膜層

    顯示技術

    消費電子

    派瑞林

    光刻膠

    OLED

    防水涂層

    電子產(chǎn)品/電路板

    介電層

    ITOTCOs

    射頻識別

    磁性材料

    砷化鎵

    空氣盒厚

    太陽能電池

    醫(yī)學器械

    微機電系統(tǒng)

    PVDCVD

    鋁制外殼陽極膜

    硅橡膠



    Filmetrics F20 單點便攜式膜厚儀產(chǎn)品參數(shù):

    波長范圍:

    380-1050nm

    光源:

    鹵素燈

    厚度測量范圍:

    15nm-70um

    測量精度:

    0.02nm

    光斑大?。?/span>

    1.5mm

    樣品臺尺寸:

    1mm-300mm

    更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取



    Filmetrics F20 單點便攜式膜厚儀測量圖:

    硅上二氧化硅測量厚度圖

    硅上氧化硅測量厚度數(shù)據(jù)








    標簽: KLA Filmetrics

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