Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)
優(yōu)尼康科技提供的Bowman K系列X射線(xiàn)熒光（XRF）鍍層測(cè)厚系統(tǒng)，專(zhuān)為處理多品種樣品的質(zhì)量控制部門(mén)設(shè)計(jì)，配備標(biāo)準(zhǔn)硅漂移探測(cè)器（SDD）和長(zhǎng)壽命50W微焦點(diǎn)X射線(xiàn)管。系統(tǒng)在高度不超過(guò)9英寸（228mm）的工件上擁有12英寸（304mm）×12英寸（304mm）的可測(cè)量區(qū)域。標(biāo)配4位（4、8、12和24mil）電動(dòng)多準(zhǔn)直器，可選尺寸覆蓋2×2mil至60mil，可變焦攝像頭支持0.25英寸至3.5英寸焦距調(diào)節(jié)，可對(duì)凹陷區(qū)域進(jìn)行測(cè)量。系統(tǒng)可同時(shí)測(cè)量最多5層鍍層（基材+4層鍍層），每層最多可分析10種元素，同時(shí)分析多達(dá)30種元素成分。元素測(cè)量范圍覆蓋13號(hào)鋁元素至92號(hào)鈾元素。伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)的可編程XY平臺(tái)支持模式匹配和自動(dòng)對(duì)焦，懸臂門(mén)設(shè)計(jì)便于樣品存取，表格視圖功能可對(duì)整個(gè)可測(cè)量區(qū)域成像并一鍵導(dǎo)航定位。運(yùn)行Bowman Archer軟件，直觀(guān)GUI界面支持自定義Excel報(bào)告，數(shù)據(jù)可無(wú)縫導(dǎo)出至ERP系統(tǒng)。系統(tǒng)符合ASTM B568、DIN50987、ISO 3497及IPC-4552等行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。適用于PCB線(xiàn)路板、半導(dǎo)體晶圓、連接器、電子元器件、引線(xiàn)框架、緊固件、汽車(chē)零部件、航空航天、珠寶首飾、五金裝飾等行業(yè)的鍍層厚度測(cè)量與元素成分分析。優(yōu)尼康科技提供專(zhuān)業(yè)技術(shù)支持與售后服務(wù)。
Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)產(chǎn)品介紹：
Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)在高度不超過(guò)9英寸(228mm)的工件上具有12英寸(304mm)x12英寸(304mm)可測(cè)量區(qū)域。自動(dòng)多準(zhǔn)直器允許選擇光斑尺寸，以適應(yīng)各種特征尺寸;可變焦攝像頭允許在0.25英寸到3.5英寸的焦距范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量。伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)的可編程平臺(tái)可實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確的可編程樣品定位。懸臂門(mén)設(shè)計(jì)方便操作人員進(jìn)行樣品放置
表格視圖功能可對(duì)整個(gè)可測(cè)量區(qū)域進(jìn)行成像，操作員只需單擊鼠標(biāo)即可導(dǎo)航到任何位置。內(nèi)置操縱桿可讓操作員從系統(tǒng)的控制面板上移動(dòng)XY平臺(tái)，而無(wú)需軟件干預(yù)。與所有其他Bowman XRF 系統(tǒng)一樣，K系列高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)符合ASTMB568、ISO3497和IPC-4552標(biāo)準(zhǔn)。
Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測(cè)量主要功能：
XYZ行程：X：12英寸（304mm）Y：12英寸（304mm）Z：9英寸（228mm）
可選配帶工作臺(tái)視圖的雙攝像頭
伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)的可編程工作臺(tái)，移動(dòng)精確、快速、平穩(wěn)
內(nèi)腔尺寸（WDH）：24英寸（609mm）、24英寸（609mm）、9英寸（228mm）
工作臺(tái)尺寸：12英寸（304.8mm）x12英寸（304.8mm）
高分辨率硅漂移探測(cè)器（SDD）
封閉式腔體設(shè)計(jì)
可同時(shí)測(cè)量多達(dá)5個(gè)涂層
可選內(nèi)置操縱桿
可選內(nèi)置電子停止裝置
懸臂門(mén)便于樣品存取
提供RoHS選件
Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)：
XRF系統(tǒng)
高分辨率的固態(tài)探測(cè)器具有良好的元素分辨能力，無(wú)需二次濾波器。峰位長(zhǎng)時(shí)間保持穩(wěn)定，無(wú)需頻繁地進(jìn)行再校準(zhǔn)。X射線(xiàn)管和探測(cè)器的閉合耦合幾何布局提供了更多的光子數(shù)量。這使得Bowman系統(tǒng)能夠以相對(duì)短的測(cè)量時(shí)間實(shí)現(xiàn)低的檢測(cè)限和相對(duì)高的精度。
直觀(guān)的用戶(hù)界面
軟件將為儀器的性能提供有力的支持。Bowman鍍層測(cè)厚儀的分析數(shù)據(jù)擁有功能豐富的軟件作為支持，該軟件將擁有直觀(guān)的用戶(hù)界面，操作簡(jiǎn)單友好。測(cè)量數(shù)據(jù)可通過(guò)批次號(hào)進(jìn)行檢索，報(bào)告可一鍵生成。用戶(hù)可以無(wú)限制地創(chuàng)建新的應(yīng)用程序和報(bào)告格式，所有結(jié)果自動(dòng)保存到電腦數(shù)據(jù)庫(kù)，所有用戶(hù)級(jí)別都可以設(shè)置密碼保護(hù)。
廣泛的鍍層厚度測(cè)量范圍
BowmanXRF高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)可對(duì)13號(hào)鋁元素到92號(hào)鈾元素進(jìn)行高精度測(cè)量分析。
Bowman XRF 高精度鍍層測(cè)量服務(wù)支持：
Bowman為用戶(hù)提供XRF技術(shù)支持和服務(wù)。目前，除美國(guó)芝加哥總部外，Bowman已在全球四大洲二十余個(gè)國(guó)家建立了辦事處或機(jī)構(gòu)。Bowman始終致力于通過(guò)提供現(xiàn)場(chǎng)技術(shù)支持服務(wù)。Bowman在中國(guó)上海設(shè)有演示應(yīng)用中心，培訓(xùn)中心及備品配件庫(kù)，在深圳，杭州，西安設(shè)有辦事。有能力為客戶(hù)提供良好的的鍍層厚度檢測(cè)方案和快速良好的售后服務(wù)。
Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)配置：
Bowman K系列XRF高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)配置包括一個(gè)4位(4、8、12和24mil)多重準(zhǔn)直器;可選尺寸為2x2mil至60mil。可變焦距便于在凹陷區(qū)域進(jìn)行測(cè)量。同服電機(jī)驅(qū)動(dòng)的可編程平臺(tái)可通過(guò)可選的xyz程序進(jìn)行零件測(cè)量。程序可使用模式匹配和自動(dòng)對(duì)焦來(lái)確保測(cè)量的準(zhǔn)確度。
與所有Bowman XRF高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)一樣，K系列配備了標(biāo)準(zhǔn)的硅漂移探測(cè)器(SDD)和長(zhǎng)壽命微聚焦x射線(xiàn)管。
Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量原理：
?BowmanXRF射線(xiàn)裝置利用X射線(xiàn)熒光原理測(cè)量鍍層和成分。當(dāng)高能X射線(xiàn)照射金屬薄膜表面時(shí)，入射光子擊出薄膜或基底材料原子的內(nèi)層電子形成空穴。外層電子躍遷填補(bǔ)空穴時(shí)釋放特征X射線(xiàn)熒光，其能量與元素的原子序數(shù)一一對(duì)應(yīng)，通過(guò)熒光的能量我們可以知道樣品中存在哪些元素，通過(guò)XRF的強(qiáng)度我們可以分析獲得樣品的厚度和每個(gè)元素的成分。
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Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)行業(yè)應(yīng)用：
半導(dǎo)體 | 線(xiàn)路板 | 電鍍 | 汽車(chē) |
航空航天 | 首飾/珠寶 | 連接器 | 緊固件 |
電子元器件 | 引線(xiàn)框架 | 管道 | 切削工具 |
Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)產(chǎn)品參數(shù)：
元素測(cè)量范圍： | 13號(hào)鋁元素到92號(hào)鈾元素 |
X射線(xiàn)管： | 50W（50kV和1mA）微聚焦W陽(yáng)極管（可提供Cr、Mo、Rh陽(yáng)極） |
探測(cè)器： | 準(zhǔn)直：硅固態(tài)探測(cè)器，分辨率為190eV或更高
光學(xué)元件：大窗口硅固態(tài)探測(cè)器，分辨率為190eV或更高 |
分析層數(shù)及元素?cái)?shù)： | 5層（4層+基礎(chǔ)），每層10個(gè)元素。同時(shí)分析多達(dá)30種元素的成分 |
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取 |
Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)實(shí)機(jī)圖：
