新型顯示與光學

優(yōu)尼康科技提供柔性顯示全流程測量方案：光學輪廓儀(Profilm3D)、膜厚儀(F20/F50)、納米壓痕儀(G200X/iMicro)、XRF分析儀、臺階儀、電阻率儀等。覆蓋柔性基板翹曲/曲率、薄膜封裝(TFE)膜厚均勻性、激光剝離(LLO)形貌、有機/無機多層膜力學性能、金屬電極成分/厚度等關鍵參數(shù)，助力可折疊/卷曲顯示屏量產(chǎn)良率提升。

優(yōu)尼康科技提供液晶顯示技術（LCD/OLED）全流程測量方案：膜厚儀(F20/F50/F54-XY)、光學輪廓儀(Profilm3D)、納米壓痕儀(G200X)、臺階儀、XRF分析儀、水滴角測量儀等。覆蓋TFT陣列膜厚、液晶盒間隙(Cell Gap)、偏光片/增亮膜厚度、配向膜摩擦形貌、彩色濾光片RGB厚度、ITO透明導電層、表面缺陷與面板翹曲等關鍵參數(shù)，助力顯示面板良率與畫質(zhì)提升。

優(yōu)尼康科技提供液晶空氣盒厚測量方案：Filmetrics F20/F50膜厚儀基于反射光譜擬合技術，非接觸快速測量液晶盒內(nèi)空氣間隙厚度，覆蓋1μm至50μm范圍，重復精度優(yōu)于0.01μm，助力LCD/TFT液晶顯示器件研發(fā)與量產(chǎn)質(zhì)控。