空氣盒厚
液晶空盒 · 盒間隙 · 液晶層厚度
Filmetrics F20 膜厚儀 · 反射光譜擬合技術(shù)
針對(duì)LCD液晶顯示器研發(fā)與量產(chǎn)，提供液晶空盒內(nèi)空氣間隙厚度（Cell Gap）的非接觸、快速、高精度測(cè)量方案，覆蓋1μm至50μm厚度范圍，重復(fù)精度優(yōu)于0.01μm，助力液晶顯示器件的光電特性優(yōu)化與良率提升。
液晶盒厚測(cè)量中的核心挑戰(zhàn)
液晶盒間隙（Cell Gap）的精準(zhǔn)控制是決定顯示器件品質(zhì)的關(guān)鍵
盒厚偏差影響光電特性
液晶盒內(nèi)空氣間隙厚度偏差會(huì)導(dǎo)致顯示器件的光電特性、底色及響應(yīng)速度發(fā)生變化。盒厚每偏差0.1μm，響應(yīng)時(shí)間可變化數(shù)毫秒，直接影響顯示品質(zhì)。
傳統(tǒng)測(cè)量方法局限性
傳統(tǒng)激光干涉或反射計(jì)方法需要復(fù)雜的光學(xué)系統(tǒng)，價(jià)格昂貴，且光強(qiáng)度測(cè)量的準(zhǔn)確性依賴元器件穩(wěn)定性，長(zhǎng)期使用后難以保證一致性，維護(hù)成本高。
樣品透明且脆弱
液晶空盒為透明玻璃結(jié)構(gòu)，接觸式測(cè)量易造成損傷或污染，且無(wú)法實(shí)現(xiàn)微區(qū)定位測(cè)量。需要非接觸、無(wú)損的檢測(cè)手段。
產(chǎn)線測(cè)量效率要求高
液晶顯示面板制造需要批量、快速的盒厚檢測(cè)。傳統(tǒng)方法單點(diǎn)測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)，無(wú)法滿足產(chǎn)線節(jié)拍需求。
測(cè)量范圍與精度兼顧難
液晶盒厚通常為1~10μm，但部分特殊應(yīng)用需覆蓋更寬范圍（至50μm）。傳統(tǒng)設(shè)備難以在寬量程內(nèi)同時(shí)保證高精度。
面內(nèi)均勻性檢測(cè)需求
同一液晶盒內(nèi)不同位置的盒厚均勻性直接影響最終顯示效果，需要支持多點(diǎn)自動(dòng)化檢測(cè)的測(cè)量系統(tǒng)。
核心產(chǎn)品 — 液晶盒厚專用測(cè)量設(shè)備
Filmetrics F20 膜厚儀
Filmetrics F20 光學(xué)膜厚儀
盒厚測(cè)量 基于光譜反射原理，通過(guò)分析液晶空盒上下表面反射光的干涉光譜，快速擬合空氣間隙厚度。測(cè)量范圍覆蓋1μm至50μm（配合不同波長(zhǎng)配置），重復(fù)精度優(yōu)于0.01μm。適用于各種排列及任意扭曲角的液晶空盒。
技術(shù)優(yōu)勢(shì)
非接觸測(cè)量，不損傷液晶盒表面
單點(diǎn)測(cè)量時(shí)間＜0.1秒
可搭配自動(dòng)X-Y平臺(tái)實(shí)現(xiàn)全幅面多點(diǎn)掃描
同時(shí)支持聚酰亞胺（PI）膜、ITO層等其他液晶顯示器件的膜厚測(cè)量
操作簡(jiǎn)單，數(shù)分鐘內(nèi)完成安裝，即插即用
F20膜厚儀廣泛應(yīng)用于LCD液晶顯示器件的盒厚測(cè)量，已為多家液晶面板企業(yè)提供可靠的檢測(cè)方案。液晶盒厚測(cè)量、空氣盒厚檢測(cè)、Cell Gap測(cè)量、液晶盒間隙測(cè)量?jī)x
反射光譜法測(cè)量原理
液晶空盒厚度的光學(xué)測(cè)量方法
反射光譜干涉
當(dāng)白光入射到液晶空盒時(shí)，光線在玻璃-空氣界面和空氣-玻璃界面分別發(fā)生反射，兩束反射光產(chǎn)生干涉。反射光譜呈正弦曲線形態(tài)，曲線極值對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)與空氣間隙厚度直接相關(guān)。
光譜擬合求厚
F20膜厚儀獲取液晶空盒的反射光譜后，軟件自動(dòng)將實(shí)測(cè)光譜與理論預(yù)測(cè)光譜進(jìn)行擬合優(yōu)化，搜索出最優(yōu)匹配的厚度值。該方法理論基礎(chǔ)成熟，重復(fù)精度可達(dá)0.01μm。
液晶盒厚測(cè)量技術(shù)參數(shù)
| 參數(shù) | 指標(biāo) |
|---|---|
| 測(cè)量原理 | 反射光譜干涉擬合法 |
| 厚度測(cè)量范圍 | 1μm ~ 50μm（配合F20不同波長(zhǎng)配置可擴(kuò)展） |
| 重復(fù)精度 | 優(yōu)于0.01μm |
| 單點(diǎn)測(cè)量時(shí)間 | ＜0.1秒 |
| 適用樣品 | 各種排列及任意扭曲角的液晶空盒 |
| 測(cè)量模式 | 單點(diǎn)/自動(dòng)X-Y平臺(tái)多點(diǎn)掃描 |
| 光源 | 內(nèi)置鎢鹵素?zé)簦蛇x配紫外/近紅外擴(kuò)展） |
| 非接觸測(cè)量 | 是 |
液晶盒厚測(cè)量應(yīng)用實(shí)例
扭轉(zhuǎn)向列型液晶空盒盒厚檢測(cè)
垂直排列液晶盒間隙檢測(cè)
新結(jié)構(gòu)液晶盒厚度驗(yàn)證
批量液晶空盒厚度快速檢測(cè)
相關(guān)產(chǎn)品快速導(dǎo)航
點(diǎn)擊進(jìn)入詳情頁(yè)，獲取技術(shù)規(guī)格與應(yīng)用案例
常見(jiàn)問(wèn)題
液晶空盒厚度測(cè)量原理是什么？
液晶盒厚度測(cè)量范圍是多少？精度如何？
是否支持液晶盒面板的多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量？
液晶盒厚測(cè)量是否需要破壞樣品？
能否同時(shí)測(cè)量液晶盒內(nèi)的PI膜厚度？
能否提供液晶空盒樣品的免費(fèi)測(cè)試？
從液晶空盒到成品面板 — F20膜厚儀為您提供精準(zhǔn)、快速的液晶盒厚測(cè)量方案。
