TS-SiO2-4-7200 SiO2厚度標(biāo)準(zhǔn)片，標(biāo)稱厚度7200Å，用于Filmetrics F系列薄膜測(cè)量系統(tǒng)的校準(zhǔn)與驗(yàn)證。優(yōu)尼康科技原裝正品，現(xiàn)貨供應(yīng)。
適用于Filmetrics F10/F20/F32/F40/F50等反射式膜厚儀的標(biāo)準(zhǔn)片，材質(zhì)SiO?，標(biāo)稱厚度7200?，用于定期校準(zhǔn)與準(zhǔn)確性驗(yàn)證。
可溯源厚度標(biāo)準(zhǔn) — 標(biāo)稱7200? SiO?，用于驗(yàn)證系統(tǒng)測(cè)量準(zhǔn)確性
高穩(wěn)定性材質(zhì) — 熱氧化SiO?薄膜，厚度均勻，長(zhǎng)期穩(wěn)定
廣泛兼容 — 適用于F10、F20、F32、F40、F50等反射測(cè)量系統(tǒng)
即取即用 — 標(biāo)準(zhǔn)片尺寸適配樣品臺(tái)，無(wú)需額外制備
原裝正品 — Filmetrics認(rèn)證，確保厚度值準(zhǔn)確可靠
定期校準(zhǔn)必備 — 幫助實(shí)驗(yàn)室滿足質(zhì)量體系對(duì)設(shè)備校準(zhǔn)的要求
膜厚儀日常校準(zhǔn) — 驗(yàn)證儀器測(cè)量精度，確保數(shù)據(jù)可靠
設(shè)備驗(yàn)收與期間核查 — 作為標(biāo)準(zhǔn)參考片進(jìn)行性能確認(rèn)
多設(shè)備比對(duì) — 在不同F(xiàn)系列系統(tǒng)間進(jìn)行厚度測(cè)量一致性比對(duì)
培訓(xùn)與演示 — 用于新用戶培訓(xùn)，展示系統(tǒng)測(cè)量能力
質(zhì)量體系要求 — 滿足ISO等體系對(duì)測(cè)量設(shè)備校準(zhǔn)的要求
| 產(chǎn)品型號(hào) | TS-SiO2-4-7200 |
|---|---|
| 材料 | SiO?（熱氧化二氧化硅） |
| 標(biāo)稱厚度 | 7200 ?（720 nm） |
| 基底 | 硅（Si） |
| 用途 | 系統(tǒng)校準(zhǔn)與厚度驗(yàn)證 |
| 兼容系統(tǒng) | F10 / F20 / F32 / F40 / F50 (反射式膜厚儀) |
以上系統(tǒng)均可使用TS-SiO2-4-7200進(jìn)行厚度校準(zhǔn)與性能驗(yàn)證。
優(yōu)尼康公眾號(hào)
售后服務(wù)支持
