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    KLA D500 探針式表面輪廓儀

    KLA D500 探針式表面輪廓儀包含140毫米手動載物臺和具有增強(qiáng)影像控制的光學(xué)器件。體積小巧,專為高校、實驗室和研究所設(shè)計,可為半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體器件、LED、太陽能、MEMS、汽車和醫(yī)療行業(yè)提供臺階高度、粗糙度和應(yīng)力測量。

    • 產(chǎn)品名稱 探針式表面輪廓儀
    • 品牌 KLA
    • 產(chǎn)品型號 D-500
    • 產(chǎn)地 美國


    KLA D500 探針式表面輪廓儀



    圖片關(guān)鍵詞


    KLA D500 探針式表面輪廓儀產(chǎn)品介紹:

    KLA D500 探針式表面輪廓儀的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率、較大的高度測量范圍和準(zhǔn)確的微力控制。探針的接觸式測量技術(shù)的優(yōu)點是直接測量,與材料特性無關(guān)。多種力度調(diào)節(jié)和探針尺寸選擇可以讓機(jī)臺對各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行準(zhǔn)確測量。這些功能可以表征因添加或移除材料而引起的形貌特征改變,以及測量由材料結(jié)構(gòu)改變引起的粗糙度和應(yīng)力變化。

    KLA D500 探針式表面輪廓儀包含140毫米手動載物臺和具有增強(qiáng)影像控制的光學(xué)器件。體積小巧,專為高校、實驗室和研究所設(shè)計,可為半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體器件、LED、太陽能、MEMS、汽車和醫(yī)療行業(yè)提供臺階高度、粗糙度和應(yīng)力測量。


    KLA D500 探針式表面輪廓儀產(chǎn)品特點:

    • 500萬像素高分辨率彩色相機(jī)

    • 平整的掃描平臺

    • 用于測量可視化的側(cè)視視圖

    • 從0.03到15毫克的力控制范圍

    • Z向掃描范圍可達(dá)1.2mm

    • 140毫米手動XY樣品臺,搭配Z向馬達(dá)

    • 符合CE標(biāo)準(zhǔn)


    KLA D500 探針式表面輪廓儀產(chǎn)品優(yōu)勢:

    • 優(yōu)異的重復(fù)性和再現(xiàn)性的表現(xiàn)

    • 接觸式測量,適用于多種材料

    • 測量軟材料的微力控制

    • 梯形失真校正可消除側(cè)視圖造成的失真

    • 弧形校正補(bǔ)償探針的弧形運動


    KLA D500 探針式表面輪廓儀產(chǎn)品測量原理:

    KLA D500 探針式表面輪廓儀臺階儀采用了光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)。光學(xué)杠桿傳感器利用轉(zhuǎn)軸組件上表面反射的激光束跟蹤表面形貌。反射的光束隨后投射到光電探測器上。對于 Alpha-Step,光束被分成兩部分:一邊投射到雙電池光電探測器上,另一邊投射到單電池光電探測器上 。這種設(shè)計可以在第一個探測器上對較小的步長進(jìn)行高分辨率測量,而在第二個探測器上對較大的步長進(jìn)行測量。激光束的偏轉(zhuǎn)在測探針蹤表面時發(fā)生變化,同時被光電探測器感應(yīng)到,然后將這種偏轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)換為形貌信號。光學(xué)杠桿的優(yōu)勢在于整個組件的質(zhì)量小,可以進(jìn)行低力測量。此外,該傳感器響應(yīng)速度快,可跟蹤表面形貌的變化。


    圖片關(guān)鍵詞


    KLA D500 探針式表面輪廓儀主要應(yīng)用:

    2D表面形貌掃描

    波紋度測量

    粗糙度測量

    樣品翹曲和曲率半徑測量

    薄膜應(yīng)力測量(Stoney方程)

    從納米級到1.2毫米的臺階高度測量


    KLA D500 探針式表面輪廓儀廣泛的行業(yè)應(yīng)用:

    高校和實驗室

    KLA D500 探針式表面輪廓儀是任何高校、研究機(jī)構(gòu)或?qū)嶒炇业闹匾芯抗ぞ?。該系統(tǒng)能夠進(jìn)行接觸式的直接測量,結(jié)果與材料性質(zhì)無關(guān)。研究人員能夠測量任何透明或不透明材料的沉積厚度。Alpha-Step輪廓儀操作簡便,簡單培訓(xùn)即可讓用戶快速掌握和使用。

    二次離子質(zhì)譜(SIMS)產(chǎn)生的凹陷

    準(zhǔn)確測量二次離子質(zhì)譜(SIMS)所產(chǎn)生的凹陷的深度,以確定離子濃度和凹陷深度的關(guān)系。測量凹陷底面的粗糙度,以表征離子束能量的均勻性。

    試驗性生產(chǎn)

    Alpha-Step探針式輪廓儀是小批量試驗性生產(chǎn)的理想選擇。操作員可以在樣品的多個位置快速聚焦和測量,以反映樣品表面的工藝變化。Alpha-Step輪廓儀的軟件還支持操作員、系統(tǒng)和批次信息的追蹤,以方便生產(chǎn)中的統(tǒng)計過程控制。

    常規(guī)應(yīng)用

    Alpha-Step探針式輪廓儀被廣泛用于生產(chǎn)或研發(fā)。例如測量紡織品安全特征和與紡織品吸光率相關(guān)的粗糙度,還有消費電子產(chǎn)品的應(yīng)用,包括測量觸摸屏形貌和玻璃屏幕上的薄膜臺階高度。

    半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體

    測量在半導(dǎo)體前段、后段和封裝工藝中的表面形貌,包括測量光刻膠厚度、蝕刻深度、濺射高度、CMP前后形貌、粗糙度、樣品翹曲和應(yīng)力,以改進(jìn)生產(chǎn)工藝控制。


    KLA D500 探針式表面輪廓儀產(chǎn)品參數(shù):

    重復(fù)性:

    5?(0.10%)

    垂直分辨率:

    0.38A

    垂直范圍:

    1200μm

    針壓范圍:

    0.03~15mg

    橫向分辨率:

    0.1μm

    最大掃描長度:

    30mm

    Theta舞臺(手動):

    360°

    掃描速度:

    10~400μm/s

    樣品厚度:

    20mm

    采樣率:

    60~2000Hz

    樣品臺直徑:

    80mm和20mm

    XY運動范圍(手動):

    140mm



    KLA D500 探針式表面輪廓儀測量圖:

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    標(biāo)簽: KLA 臺階儀

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