Film Sense FS-8 多波長橢偏儀

Film Sense FS-8多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現(xiàn)可靠地薄膜測量。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡單的 1 秒測量，就可以獲得準確的數(shù)據(jù)。還可以測量大多數(shù)樣品的光學(xué)常數(shù)和其他薄膜特性。

產(chǎn)品名稱：多波長橢偏儀

品牌： Film Sense

產(chǎn)品型號： FS-8

產(chǎn)地：美國

FilmSense FS-8 多波長橢偏儀

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FilmSense FS-8 多波長橢偏儀產(chǎn)品介紹：

第四代FilmSense FS-8 多波長橢偏儀使用長壽命的LED光源和無移動部件的橢圓偏振探測器。在便攜的緊湊型系統(tǒng)中提供快速而可靠的薄膜測量。通過簡單的1秒測量，可以以很高的精度和準確度測定大多數(shù)透明薄膜的薄膜厚度和折射率，并對樣品進行光學(xué)常數(shù)、n&k值等薄膜性質(zhì)的測量。

FilmSense FS-8 多波長橢偏儀產(chǎn)品特點優(yōu)勢：

多個LED光源：4或8個，波長370-950nm，視系統(tǒng)而定
一體化設(shè)計：橢圓偏振探測器中無可移動部件
光源壽命長：>50,000小時），沒有耗時的對準或PM程序
測量速度快：10ms內(nèi)的多波長數(shù)據(jù)
使用維護簡單：直接用瀏覽器即可訪問軟件界面，沒有復(fù)雜的軟件和維護，無外部電子設(shè)備盒或光纖連接。

FilmSense FS-8 多波長橢偏儀產(chǎn)品測量原理：

FilmSense FS-8 多波長橢偏儀是利用薄膜的光學(xué)特性進行膜厚測量的非接觸測量方法。基于偏振光反射或透射時的狀態(tài)變化來測量薄膜的厚度和折射率。當(dāng)偏振光照射到薄膜表面時，反射光或透射光的偏振狀態(tài)會發(fā)生變化，這種變化依賴于薄膜的厚度、折射率以及入射光的偏振狀態(tài)和角度。通過分析這些變化，可以準確地推導(dǎo)出薄膜的厚度。

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FilmSense FS-8 多波長橢偏儀產(chǎn)能力和表現(xiàn)：

FilmSense FS-8 多波長橢偏儀在測量透明單層薄膜的厚度和折射率方面表現(xiàn)良好。上限厚度取決于橢偏儀系統(tǒng)（通常為2-5μm），但也取決于基底和薄膜的光學(xué)常數(shù)。與其他橢偏儀系統(tǒng)一樣，為了獲得準確的折射率測量結(jié)果，需要有較小薄膜厚度（通常為10nm）。

也可以測量光吸收薄膜，但由于需要薄膜光學(xué)常數(shù)（n和k值），數(shù)據(jù)分析變得更加復(fù)雜。FilmSense軟件包含多種確定n&k值的方法價值：

多樣本分析；
結(jié)合橢偏儀和透射率測量；
使用新型液體樣品池選項的浸入式橢偏儀；
分散模型。吸收膜的厚度上限與材料類型密切相關(guān)；對于金屬膜，上限通常為50納米。
FilmSense FS-8 多波長橢偏儀還可用于測量多層薄膜疊層（有時多達5層），具體取決于各層的厚度和折射率?？梢栽?/span>FilmSense軟件中進行模擬，以確定特定樣品結(jié)構(gòu)是否可行。對于某些樣品，還可以表征薄膜中的表面粗糙度和折射率梯度。