Filmetrics-F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x

Filmetrics的精密光譜測(cè)量系統(tǒng)讓用戶(hù)簡(jiǎn)單快速地測(cè)量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過(guò)對(duì)待測(cè)膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測(cè)量結(jié)果。

產(chǎn)品名稱(chēng)：薄膜厚度測(cè)量?jī)x-膜厚儀

品牌： Filmetrics

產(chǎn)品型號(hào)： F40

產(chǎn)地：美國(guó)

Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x

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Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品介紹：

Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x的光譜測(cè)量系統(tǒng)讓用戶(hù)簡(jiǎn)單快速地測(cè)量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過(guò)對(duì)待測(cè)膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測(cè)量結(jié)果。當(dāng)測(cè)量需要在待測(cè)樣品表面的某些微小限定區(qū)域進(jìn)行，或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時(shí)，可以使用Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x。使用先校正顯微鏡的物鏡，再進(jìn)行測(cè)量，即可獲得厚度及光學(xué)參數(shù)值。只要透過(guò)Filmetrics的C-mount連接附件，Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x就可以和市面上多數(shù)的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭，可以讓用戶(hù)從電腦屏幕上清晰地看樣品和測(cè)量位置。

Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品特點(diǎn)優(yōu)勢(shì)：

結(jié)合顯微鏡的膜厚測(cè)量系統(tǒng)，光斑小至一微米的測(cè)量精度；
匹配市面多數(shù)的顯微鏡連接使用；
清晰且直觀地觀察樣品并確認(rèn)測(cè)量位置；

Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x測(cè)量原理：

當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時(shí)將會(huì)有部分的光被反射，由于光的波動(dòng)性導(dǎo)致從多個(gè)界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長(zhǎng)光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進(jìn)而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時(shí)也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

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Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品應(yīng)用與膜層范例：

薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光學(xué)常數(shù)、均勻性、刻蝕量等
薄膜種類(lèi)：透明及半透明薄膜，常見(jiàn)如氧化物、聚合物甚至空氣
薄膜狀態(tài)：固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)薄膜都可以測(cè)量
薄膜結(jié)構(gòu)：?jiǎn)螌幽?、多層膜；平面、曲?/span>

Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品常見(jiàn)工業(yè)應(yīng)用：

半導(dǎo)體制造	生物醫(yī)學(xué)元件	MEMS微機(jī)電系統(tǒng)	LCD液晶顯示器
光刻膠	聚合物	光刻膠	盒厚
氧化物/氮化物	聚對(duì)二甲苯	硅膜	聚酰亞胺
硅	生物膜/氣泡墻厚度	氮化鋁	ITO導(dǎo)電透明膜
半導(dǎo)體膜層	植入藥物涂層	氧化鋅薄膜濾鏡

Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品參數(shù)：

波長(zhǎng)范圍：	190nm-1690nm	光源：	內(nèi)部顯微鏡光源
測(cè)量nk值最小厚度	50nm	測(cè)量精度：	0.02nm
穩(wěn)定性：	0.05nm	準(zhǔn)確度*：取較大者	50nm
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取