Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀

F10-HC 薄膜厚度測量系統(tǒng)獨特的接觸式探頭大大降低反射干擾的影響，能夠快速的分析薄膜的反射光譜資料并提供測量厚度，加Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀軟件的模擬演算法的設(shè)計，能夠在厚膜中測量單層與多層(例如：底漆或硬涂層等)。

產(chǎn)品名稱：薄膜厚度測量儀

品牌： Filmetrics

產(chǎn)品型號： F10-HC

產(chǎn)地：美國

Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀

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Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品介紹：

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀是以Filmetrics F20 白光干涉儀膜厚儀為基礎(chǔ)所發(fā)展而來。F10-HC 薄膜厚度測量系統(tǒng)獨特的接觸式探頭大大降低反射干擾的影響，能夠快速的分析薄膜的反射光譜資料并提供測量厚度，加Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀軟件的模擬演算法的設(shè)計，能夠在厚膜中測量單層與多層(例如：底漆或硬涂層等)。

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品特點優(yōu)勢：

具備價格優(yōu)勢的薄膜測量系統(tǒng)；
具備簡易的操作系統(tǒng)，新樣板模式功能的F10-HC薄膜厚度測量儀自動通知測量結(jié)果；
自動化基準(zhǔn)矯正以及設(shè)置自己的積分時間；
獨特的接觸式探頭大大降低反射干擾的影響；

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品測量原理：

當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導(dǎo)致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

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Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品應(yīng)用與膜層范例：

音膜厚度檢測，通過反射率信息計算音膜的厚度測量，采用接觸式探頭，從而降低背面反射影響，更好的對膜的凹凸不規(guī)則表面進行測量。

Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀產(chǎn)品參數(shù)：

波長范圍：	380nm-1050nm	光源：	鎢鹵素?zé)?/span>
厚度測量范圍：	0.05μm-70μm	測量精度：	0.01μm
光斑大?。?/span>	200μm	穩(wěn)定性：	0.01μm
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取