Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品介紹：
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo)，F10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡(jiǎn)單操作。用戶就能進(jìn)行 FWHM 并進(jìn)行顏色分析。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x的分析能力。測(cè)量結(jié)果能被快速地導(dǎo)出和打印。
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品特點(diǎn)優(yōu)勢(shì)：
同步測(cè)量薄膜的反射率/穿透率，1s內(nèi)獲得結(jié)果；
簡(jiǎn)單快速、易于使用的分析優(yōu)點(diǎn)；
設(shè)備具有完整標(biāo)準(zhǔn)配置，確保設(shè)備高度可靠；
測(cè)量結(jié)果能被快速地導(dǎo)出和打印。
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品測(cè)量原理：
當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時(shí)將會(huì)有部分的光被反射，由于光的波動(dòng)性導(dǎo)致從多個(gè)界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長(zhǎng)光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進(jìn)而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時(shí)也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品應(yīng)用與膜層范例：
半導(dǎo)體膜層 | 顯示技術(shù) | 消費(fèi)電子 | 派瑞林 |
光刻膠 | OLED | 防水涂層 | 電子產(chǎn)品/電路板 |
介電層 | ITO和TCOs | 射頻識(shí)別 | 磁性材料 |
砷化鎵 | 空氣盒厚 | 太陽(yáng)能電池 | 醫(yī)療器械 |
微機(jī)電系統(tǒng) | PVD和CVD | 鋁制外殼陽(yáng)極膜 | 硅橡膠 |
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品參數(shù)：
波長(zhǎng)范圍： | 190nm-1700nm | 光源： | 鎢鹵素?zé)簟?/span> 氘燈 |
厚度測(cè)量范圍： | 1nm-150μm | 測(cè)量精度： | 0.01nm |
光斑大小： | 6mm | 穩(wěn)定性： | 0.05nm |
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取 |
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x測(cè)量圖：
