HORIBA SZ-100V2 納米顆粒分析儀
動態(tài)光散射（DLS）技術 | 粒徑·Zeta電位·分子量三合一 | ppm級至40%濃度 | 微量樣品12μL
SZ-100V2 是一臺小巧而強大的納米顆粒表征系統(tǒng)，一機整合動態(tài)光散射（DLS）粒徑測量、Zeta電位分析和分子量測定三大功能。獨特的雙光路設計（90°;和173°;）覆蓋從ppm級稀溶液到40%高濃度漿料，僅需12μL微量樣品即可上機，常規(guī)測量僅需2分鐘。廣泛用于生物制藥、納米材料、涂料油墨、化工和能源領域。
五大核心優(yōu)勢
三
一臺儀器三項參數(shù)
同步完成粒徑、Zeta電位和分子量（Mw/A2）測量，無需更換硬件，極大提升研發(fā)和質(zhì)檢效率。
寬域
超寬濃度覆蓋
從ppm級蛋白質(zhì)到40%高濃度漿料均可直接測量，幾乎無需稀釋，適應各種實際樣品狀態(tài)。
微量
微量樣品適配
專為珍貴樣品設計，最低僅需12μL，兼容一次性、半微量、玻璃及流動池，滿足多樣需求。
雙角
雙光路雙角度
90°;和173°;雙檢測角度，自動優(yōu)化信噪比，準確表征寬分布、多分散體系。
防污
防交叉污染設計
一次性Zeta電位樣品池杜絕樣品間交叉污染；專用石墨電極可測高鹽、強腐蝕樣品。
三大測量原理
動態(tài)光散射（DLS） - 粒徑通過納米粒子布朗運動引起散射光強波動，分析波動速度與粒徑的關系，覆蓋0.3nm至10μm。
激光多普勒電泳 - Zeta電位施加電場使帶電粒子運動，測量散射光多普勒頻移，得到Zeta電位（-500~+500mV），評估分散體系穩(wěn)定性。
靜態(tài)光散射 - 分子量利用德拜記點法，測量不同濃度下散射光強，計算絕對分子量（Mw）和第二維利系數(shù)（A2）。
典型應用領域
生物制藥納米材料涂料油墨半導體CMP漿料電池與能源材料化妝品與個人護理食品與飲料學術與科研
靈活附件選項
樣品池選項
| 一次性樣品池 | 經(jīng)濟、無交叉污染 |
| 半微量/微量池 | 僅需100μL或12μL |
| 玻璃池/流動池 | 可重復使用或在線連接 |
| Zeta電位塑料/玻璃池 | 兼容水相和有機相 |
升級模塊
| 自動滴定儀 | pH、濃度自動滴定，等電點測定 |
| 石墨電極 | 耐強腐蝕、高鹽樣品 |
| 微量樣品池套件 | 12μL超微量測量 |
產(chǎn)品參數(shù)
| 測量原理 | 粒徑：動態(tài)光散射法（DLS）；Zeta電位：激光多普勒電泳法；分子量：德拜記點法（靜態(tài)光散射） |
| 粒徑測量范圍 | 0.3 nm - 10 μm | Zeta電位范圍 | -500 mV - +500 mV |
| 分子量范圍（德拜） | 1,000 - 2x10^7 Da | 分子量范圍（MHS） | 540 - 2x10^7 Da |
| 最大樣品濃度 | 40 wt% | 測量角度 | 90度和173度 |
| 樣品池類型 | 一次性、半微量、微量、玻璃、流動池、Zeta電位專用池 | 自動滴定儀 | 可選（pH/濃度滴定） |
| 最小樣品量 | 12 μL | 典型測量時間 | 約2分鐘 |
典型測量案例
生物材料：膠體金顆粒粒徑測量（NIST標準物質(zhì)）
| NIST標準物質(zhì) | RM8011 (10nm) | RM8012 (30nm) | RM8013 (60nm) |
|---|
| NIST參考值 (nm) | 13.5 | 26.5 | 55.3 |
| SZ-100V2 測量值 (nm) | 11.0 | 26.6 | 55.4 |
常見問題
SZ-100V2 可以測量高濃度樣品嗎？需要稀釋嗎？
可以。SZ-100V2 的設計允許直接測量高達40 wt%的樣品，幾乎無需稀釋。獨特的173度背散射光路特別適合高濃度和渾濁樣品，避免了多次散射的干擾。對于低濃度樣品（如蛋白質(zhì)），90度光路提供更高靈敏度。雙光路自動優(yōu)化，覆蓋從ppm級到高濃度的全范圍。
Zeta電位測量有什么實際意義？
Zeta電位是衡量分散體系穩(wěn)定性的關鍵參數(shù)。通常Zeta電位絕對值大于30mV表示體系穩(wěn)定，低于20mV則容易發(fā)生團聚或沉降。通過調(diào)節(jié)pH、離子強度或添加表面活性劑，可以優(yōu)化Zeta電位，從而在涂料、墨水、陶瓷漿料等產(chǎn)品開發(fā)中實現(xiàn)長期穩(wěn)定分散。
分子量測量需要額外附件嗎？
不需要。SZ-100V2 通過靜態(tài)光散射（德拜記點法）直接測量絕對分子量（Mw）和第二維利系數(shù)（A2），標配功能，只需配備標準樣品池和一系列濃度的樣品即可。也可通過Mark-Houwink方程從DLS粒徑估算分子量。
如何處理強酸、強堿或高鹽樣品？
HORIBA提供專用的石墨電極和耐腐蝕Zeta電位樣品池，專門用于測量高鹽、強酸強堿等惡劣環(huán)境樣品。同時，一次性樣品池也能有效避免交叉污染。
設備操作是否復雜？需要專門培訓嗎？
SZ-100V2 配備了智能化軟件，自動優(yōu)化測量參數(shù)和數(shù)據(jù)分析。簡單的引導式操作流程使新用戶也能快速上手。同時提供全面的培訓資料和應用支持。
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