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    Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)

    優(yōu)尼康科技提供的Bowman B系列X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀,采用微聚焦X射線管和多孔毛細管光學聚焦裝置,有效縮小測量光斑至小于100μm的同時,可數(shù)倍甚至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強度,實現(xiàn)高精度的微區(qū)測量。元素測量范圍覆蓋13號鋁元素至92號鈾元素,最多可同時分析5層鍍層(含基材),并可同時分析25種元素成分。系統(tǒng)標配SDD硅漂移探測器或Si-PIN固態(tài)探測器,分辨率為190eV或更高,可滿足嚴格的微區(qū)、超薄鍍層及痕量元素分析需求??蓽y量單層鍍層(Au/Ag/Ni/Cu/Sn/Zn等)、合金鍍層(ZnNi/SnPb等)的厚度與成分比例、多層鍍層(Au/Ni/Cu、Au/Pd/Ni/Cu等),以及電鍍?nèi)芤褐薪饘匐x子濃度和ROHS有害元素。配備直觀的Xralizer軟件,支持批次號檢索、一鍵生成報告、自定義報告格式及密碼保護,所有結(jié)果自動保存。適用于半導體晶圓、PCB線路板、引線框架、連接器、緊固件、汽車零部件、航空航天、珠寶首飾、電子元器件、管道、切削工具等行業(yè)。優(yōu)尼康科技提供專業(yè)技術支持與售后服務。

    • 產(chǎn)品名稱 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)
    • 品牌 Bowman 博曼
    • 產(chǎn)品型號 B系列
    • 產(chǎn)地 美國


    Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)



    圖片關鍵詞


    優(yōu)尼康科技提供的Bowman B系列X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀,采用微聚焦X射線管和多孔毛細管光學聚焦裝置,有效縮小測量光斑至小于100μm的同時,可數(shù)倍甚至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強度,實現(xiàn)高精度的微區(qū)測量。元素測量范圍覆蓋13號鋁元素至92號鈾元素,最多可同時分析5層鍍層(含基材),并可同時分析25種元素成分。系統(tǒng)標配SDD硅漂移探測器或Si-PIN固態(tài)探測器,分辨率為190eV或更高,可滿足嚴格的微區(qū)、超薄鍍層及痕量元素分析需求。可測量單層鍍層(Au/Ag/Ni/Cu/Sn/Zn等)、合金鍍層(ZnNi/SnPb等)的厚度與成分比例、多層鍍層(Au/Ni/Cu、Au/Pd/Ni/Cu等),以及電鍍?nèi)芤褐薪饘匐x子濃度和ROHS有害元素。配備直觀的Xralizer軟件,支持批次號檢索、一鍵生成報告、自定義報告格式及密碼保護,所有結(jié)果自動保存。適用于半導體晶圓、PCB線路板、引線框架、連接器、緊固件、汽車零部件、航空航天、珠寶首飾、電子元器件、管道、切削工具等行業(yè)。優(yōu)尼康科技提供專業(yè)技術支持與售后服務。


    Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)產(chǎn)品介紹:

    Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)是博曼的基礎機型和常規(guī)機型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實現(xiàn)手動操作。測量時將樣品放入樣品倉,通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內(nèi)的位置來完成測量。



    Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)優(yōu)勢:

    XRF系統(tǒng)

    高分辨率的固態(tài)探測器具有良好的元素分辨能力,無需二次濾波器。峰位長時間保持穩(wěn)定,無需頻繁地進行再校準。與其他同類型設備相比,X射線管和探測器的閉合耦合幾何布局光子數(shù)有明顯提升。

    直觀的用戶界面

    Bowman配套軟件將為儀器的性能提供支持。Bowman XR F高精度鍍層測量系統(tǒng)的分析數(shù)據(jù)擁有強大的軟件作為支持,該軟件將擁有直觀的用戶界面,操作簡單友好。測量數(shù)據(jù)可通過批次號進行檢索,報告可一鍵生成。用戶可以無限制地創(chuàng)建新的應用程序和報告格式,所有結(jié)果自動保存到電腦數(shù)據(jù)庫,所有用戶級別都可以設置密碼保護。

    廣泛的鍍層厚度測量范圍

    BowmanXRF高精度鍍層測量系統(tǒng)可對13號鋁元素到92號鈾元素進行高精度測量分析。

    • 單層鍍層:Au,AgNi,Cu,Sn,Zn

    • 合金鍍層:ZnNi合金,SnPb合金等鍍層厚度和成分比例同時分析

    • 雙層鍍層:Au/Ni/Cu,Sn/Ni/CuCr/Ni/Fe

    • 三層鍍層:Au/Pd/Ni/Cu

    • 至多可分析5層鍍層

    • 可同時分析25種元素成分

    • 可分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度

    • 可分析ROHS有害元素


    Bowman XRF 高精度鍍層測量系統(tǒng)服務支持:

    Bowman為用戶提供的XRF技術支持和服務。目前,除美國芝加哥總部外,Bowman已在全球四大洲二十余個國家建立了辦事處或機構(gòu)。博曼始終致力于通過提供現(xiàn)場技術支持服務,從而成就用戶。Bowman在中國上海設有演示應用中心,培訓中心及備品配件庫,在深圳,杭州,西安設有辦事處。有能力為客戶提供貼心的鍍層厚度檢測方案和快速相應的售后服務。



    Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)配置:

    Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)標準配置包括一個固定準直器,一個固定焦距的相機,固態(tài)PIN探測器和質(zhì)量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號一樣,該型號也可以升級為包括多個準直器,可變焦距相機和SDD探測器。



    Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)測量原理:

    ?Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)利用X射線熒光原理測量鍍層和成分。當高能X射線照射金屬薄膜表面時,入射光子擊出薄膜或基底材料原子的內(nèi)層電子形成空穴。外層電子躍遷填補空穴時釋放特征X射線熒光,其能量與元素的原子序數(shù)一一對應,通過熒光的能量我們可以知道樣品中存在哪些元素,通過XRF的強度我們可以分析獲得樣品的厚度和每個元素的成分。

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    Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)行業(yè)應用:

    半導體

    線路板

    電鍍

    汽車

    航空航天

    首飾/珠寶

    連接器

    緊固件

    電子元器件

    引線框架

    管道

    切削工具



    Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)產(chǎn)品參數(shù):

    元素測量范圍:

    13號鋁元素到92號鈾元素

    X射線管:

    50W50kV1mA)微聚焦鎢靶射線管

    探測器:

    準直:硅固態(tài)探測器,分辨率為190eV或更高
    光學元件:大窗口硅固態(tài)探測器,分辨率為190eV或更高

    分析能力:

    5層(4+基礎),每層10個元素。同時分析多達25種元素的成分

    更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取



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