樹脂
樹脂薄膜 · 樹脂涂層 · 樹脂基板
Filmetrics F20 · F50 光學(xué)膜厚儀
針對(duì)各類樹脂材料（PE、PET、PP、PC、PMMA、PI、環(huán)氧樹脂、聚酰亞胺、光刻膠等）的薄膜、涂層、基板及封裝層，提供非接觸、無損、高精度的膜厚測量與光學(xué)常數(shù)分析方案，覆蓋研發(fā)、工藝優(yōu)化到量產(chǎn)質(zhì)控全鏈條。
樹脂領(lǐng)域膜厚測量的核心挑戰(zhàn)
軟質(zhì)·透明·易變形 — 傳統(tǒng)接觸式測量難以勝任
樹脂材料質(zhì)地柔軟易變形
PE、PP、PET等樹脂薄膜質(zhì)地柔軟，接觸式探頭測量會(huì)壓陷樣品，導(dǎo)致測量值偏小且重復(fù)性差。光學(xué)膜厚儀采用完全非接觸測量，不會(huì)造成樣品形變。
透明/半透明材料測量困難
多數(shù)樹脂材料為透明或半透明，傳統(tǒng)測量方法難以準(zhǔn)確獲取厚度。F20/F50膜厚儀基于光譜反射干涉原理，專為透明材料優(yōu)化，可精確測量各類透明樹脂薄膜。
軟質(zhì)樣品接觸測量易變形
接觸式測量法會(huì)產(chǎn)生形變導(dǎo)致厚度數(shù)值偏小，特別對(duì)于軟質(zhì)樣品而言，測長儀和高度計(jì)均不適用。光學(xué)膜厚儀非接觸無損測量是理想解決方案。
產(chǎn)線大面積均勻性監(jiān)控
樹脂薄膜、樹脂涂層的面內(nèi)均勻性是量產(chǎn)質(zhì)控的關(guān)鍵指標(biāo)。F50膜厚儀支持自動(dòng)Mapping掃描，可快速生成全幅面厚度分布云圖。
超薄樹脂層測量靈敏度不足
光刻膠、PI涂層等超薄樹脂層厚度僅數(shù)納米至數(shù)百納米，F(xiàn)20膜厚儀精度高達(dá)0.1nm，可滿足超薄樹脂層的測量需求。
多層樹脂結(jié)構(gòu)解析
功能膜、復(fù)合膜等多層樹脂結(jié)構(gòu)需要逐層解析。F20/F50膜厚儀支持多層膜擬合功能，可同時(shí)解析多層樹脂結(jié)構(gòu)中每一層的厚度。
核心產(chǎn)品 — 樹脂領(lǐng)域?qū)Ｓ霉鈱W(xué)膜厚儀
F20 單點(diǎn)高精度測量 · F50 全幅面均勻性Mapping
Filmetrics F20 光學(xué)膜厚儀
高精度單點(diǎn)測量 基于光譜反射原理，測量范圍1nm~250μm，精度高達(dá)0.1nm，毫秒級(jí)測量速度。適用于樹脂薄膜（PET、PE、PP、PI）、樹脂涂層（丙烯酸、環(huán)氧、硬涂層）的厚度及光學(xué)常數(shù)（n/k）快速測量。
了解F20 →Filmetrics F50 自動(dòng)膜厚Mapping系統(tǒng)
全幅面均勻性分析 在F20基礎(chǔ)上集成自動(dòng)Mapping功能，可快速評(píng)估樹脂薄膜、樹脂基板、樹脂涂層的大面積厚度均勻性。支持自定義多點(diǎn)掃描方案，自動(dòng)生成厚度分布云圖與統(tǒng)計(jì)報(bào)告，適合功能膜量產(chǎn)質(zhì)控和工藝優(yōu)化。
了解F50 →F20與F50均基于非接觸光學(xué)測量原理，適合軟質(zhì)、透明、易變形的樹脂材料測量。樹脂薄膜厚度測量、光學(xué)膜厚儀樹脂涂層、非接觸樹脂膜厚測量、F50膜厚Mapping
光譜反射膜厚測量原理
F20/F50膜厚儀的技術(shù)核心
光譜反射干涉
膜厚儀向樣品表面發(fā)射白光，光線在薄膜上下表面分別反射，兩束反射光產(chǎn)生干涉。通過分析反射光譜的干涉頻率，結(jié)合材料光學(xué)常數(shù)模型，即可精確計(jì)算出薄膜厚度。
光學(xué)常數(shù)擬合
除厚度外，F(xiàn)20/F50還可同步擬合薄膜的折射率n和消光系數(shù)k。通過寬光譜掃描（380~1000nm），建立材料色散模型，實(shí)現(xiàn)厚度與光學(xué)常數(shù)的同步精確測量。
F20 與 F50 技術(shù)參數(shù)對(duì)比
| 參數(shù) | F20 光學(xué)膜厚儀 | F50 自動(dòng)膜厚Mapping系統(tǒng) |
|---|---|---|
| 測量原理 | 光譜反射干涉 | 光譜反射干涉 |
| 厚度范圍 | 1nm ~ 250μm | 1nm ~ 250μm |
| 測量精度 | ±0.1nm（透明膜） | ±0.1nm（透明膜） |
| 測量速度 | 毫秒級(jí) | 毫秒級(jí)/點(diǎn)，最快2點(diǎn)/秒 |
| 測量模式 | 單點(diǎn)手動(dòng)測量 | 自動(dòng)Mapping多點(diǎn)掃描 |
| 可測層數(shù) | 最多4層 | 最多4層 |
| 光學(xué)常數(shù)分析 | 支持(n/k) | 支持(n/k) |
| 適用樣品 | 樹脂薄膜、涂層、基板 | 樹脂薄膜、涂層、基板（大面積均勻性分析） |
| 數(shù)據(jù)輸出 | 單點(diǎn)厚度值 | 厚度分布云圖、均勻性統(tǒng)計(jì)報(bào)告 |
樹脂膜厚測量應(yīng)用實(shí)例
PET薄膜厚度快速檢測
PET/ITO透明導(dǎo)電膜涂層厚度測量
柔性顯示PI基板厚度均勻性檢測
AR增透膜樹脂層厚度與n/k同步分析
相關(guān)產(chǎn)品快速導(dǎo)航
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常見問題
樹脂材料柔軟易變形，接觸式膜厚儀不適合，F(xiàn)20/F50能否解決？
透明樹脂薄膜如何準(zhǔn)確測量厚度？
F20和F50的主要區(qū)別是什么？如何選擇？
F20/F50膜厚儀可以同時(shí)獲得折射率n嗎？
能否提供樹脂樣品的免費(fèi)測試？
從樹脂薄膜到樹脂涂層，從單點(diǎn)測量到全幅面Mapping — F20/F50膜厚儀為樹脂領(lǐng)域提供精準(zhǔn)膜厚測量方案。
